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當前位置：首頁 / 產(chǎn)品中心 / 實驗室稱重 / 0.1mg萬分位內(nèi)校分析天平
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FA-A(I)系列 萬分位內(nèi)校大量程分析天平包括擁有較高測量性能的分析天平。它們配備了高度集成的稱重傳感器，這種傳感器具有很高的穩(wěn)定性，不因溫度變化和時間流逝而改變，并由于質量減小、組件總數(shù)減少而具有快速響應能力。
FA-T系列 觸屏內(nèi)校分析天平功能：全自動內(nèi)部校準，全量程去皮/計數(shù)/密度/百分比稱重。
FA/FA-N系列 幸運分析天平擁有鑄鋁外殼/超大空間防風罩，靈敏度/速度可調/百分比稱重。
FA-E(EN)系列 內(nèi)校分析天平打印功能（波特率設置，連續(xù)輸出和單點輸出切換）。
幸運萬分之一電子天平實驗室分析天平 FA1004E 量程100g精度0.1 FA-E系列分析電子天平是幸運天平 2020年推出的新款經(jīng)濟型分析電子天平 主機搭載第四代自主研發(fā)的超薄的電磁力 機芯，在前三代原有基礎，進行了升級性 的改革，突破了原有的厚重笨拙，設計 小巧靈活，拓寬了杠桿的范圍，靈敏度 更高，整體機芯變小，使簧片之間的扭矩 變小，運輸更安全， 整機尺寸的減小讓工作區(qū)域有了更大適應性。
